本书较为系统地阐述了晶体材料中存在的各种对称性和晶体的取向特性，并以无机晶体材料为背景，介绍了常见的晶体结构特征及晶体结构检测原理。在完整晶体结构的基础上，还分析讨论了晶体的缺陷特征，包括点缺陷、位错的弹性特征、晶界的取向特征等。 借助本书，读者可从材料工程角度对材料晶体学和晶体结构知识有较深入的了解和程度的知识更新，为在材料科学与工程领域中进行新材料的研究和新工艺的开发奠定良好的晶体学基础。 本书可作为材料专业硕士研究生的专业基础教材，或材料专业本科学生、博士研究生的专业参考书；也可供从事材料科学与工程研究的科研人员、高等学校教师或相关企业工程技术人员阅读。

多年以来，有很多探索研究已经成功地描述了晶体生长的生长工艺和科学，有许多文章、专著、会议文集和手册对这一领域的前沿成果做了综合评述。这些出版物反映了人们对体材料晶体和薄膜晶体的兴趣日益增长，这是由于它们的电子、光学、机械、微结构以及不同的科学和技术应用引起的。实际上，大部分半导体和光器件的现代成果，如果没有基本的、二元的、三元的及其他不同特性和大尺寸的化合物晶体的发展则是不可能的。这些文章致力于生长机制的基本理解、缺陷形成、生长工艺和生长系统的设计，因此数量是庞大的。本手册针对目前备受关注的体材料晶体和薄膜晶体的生长技术水平进行阐述。我们的目的是使读者了解经常使用的生长工艺、材料生产和缺陷产生的基本知识。为完成这一任务，我们精选了50多位科学家、学者和工程师，他们的合作者来自

多年以来，有很多探索研究已经成功地描述了晶体生长的生长工艺和科学，有许多文章、专著、会议文集和手册对这一领域的前沿成果做了综合评述。这些出版物反映了人们对体材料晶体和薄膜晶体的兴趣日益增长，这是由于它们的电子、光学、机械、微结构以及不同的科学和技术应用引起的。实际上，大部分半导体和光器件的现代成果，如果没有基本的、二元的、三元的及其他不同特性和大尺寸的化合物晶体的发展则是不可能的。这些文章致力于生长机制的基本理解、缺陷形成、生长工艺和生长系统的设计，因此数量是庞大的。本手册针对目前备受关注的体材料晶体和薄膜晶体的生长技术水平进行阐述。我们的目的是使读者了解经常使用的生长工艺、材料生产和缺陷产生的基本知识。为完成这一任务，我们精选了50多位科学家、学者和工程师，他们的合作者来自

本书主要从晶体学理论入手，阐述晶体生长理论；借助晶体结构表征和现代分析技术，深入揭示晶体结晶过程中的影响因素，为研究开发材料、化学、药物等新晶型提供理论指导和技术参考。本书的特色与创新在于：高度结合社会需求实际，用理论联系实践，促进专业知识与科研和生产实践的交叉融合，既能作为本科生、研究生专业课程教材，又能成为晶型生产研发的参考手册。