![GPU精粹3 [美]阮亚 杨柏林、 【正版保证】](http://img3m2.ddimg.cn/20/22/11759424752-1_l.jpg)
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![并行计算机组成与设计 [美]米歇尔·杜波依斯 机械工业出版社 9787111562238【放心购买】](http://img3m0.ddimg.cn/71/33/11863768130-1_l.jpg)
本书介绍和分析了嵌入式的重要概念和应用设计方法，并提供了多个基于ARM平台的多线程应用实例。重点从实时、多线程、ThreadX和ARM处理器结合的角度进行展开，并用实际的案例分析将它们与应用相结合。读者可从中获得完成自己的应用所需的所有细节，包括ARM处理器的概况和ThreadX实时操作（RTOS）所提供的所有服务。
本书是作者在嵌入式系统领域十余年经验的结晶，书中涵盖了嵌入式系统的各个方面，内容分为4个部分：部分包括嵌入式系统的基本介绍以及一些的知识；第二部分介绍嵌入式硬件，包括处理器、存储器、I/O以及总线；第三部分是关于嵌入式软件的介绍，包括设备驱动、操作系统及中间件和应用软件；第四部分介绍了嵌入式系统的设计与开发。此外，书中还包括大量图和计算机代码，帮助读者理解嵌入式系统的理论知识。 本书适合嵌入式系统专业人员阅读，同时也可以作为技术人员培训和高等院校“嵌入式系统”课程。
![嵌入式系统设计 [美]Arnold Berger 著；吕骏 译 电子工业出版社 9787505380141【达额立减】](http://img3m0.ddimg.cn/4/13/11863730740-1_l.jpg)
![数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 [美]Alfred L.Crouch 著 中国电力出版社，【正版保证】](http://img3m0.ddimg.cn/16/12/11723298460-1_l.jpg)
书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计，包括重用和隔离测试；用VSIA和IEEE P1500标准处理测试问题。 书中穿插的整幅图解直接来自作者的教学材料。通过为书中的部分列出流程图、工程图表和内容接要，使得读者能够更快更容易地学习和查找。本书是与设计和测试工作相关的工程师和管理员所备的资料书籍。
