本书从理与实验两个方面这用于研究铜氧化物超导体的光电子谱技术的现状，一并讲述由这些测量得到的结果。 所描述的技术包括价电子的角分辨光电子谱，芯能级，还有诸如共振光发射之类的几种衍生技术。着重讲述的是解释这些谱所遇到的难点，以及在制备样品的优质表面和提高测量分辨率方面的问题。与得自其他实验技术的结果作了一些对照。作者还略述了这些技术将来可以预期的发展。 对高温超导体感兴趣的物理、化学和材料科学的研究生与科研工作者，将会对本书有莫大的兴趣。
