内容简介: 本书是模拟CMOS集成电路设计方面的经典教材,介绍模拟CMOS集成电路的分析与设计,着重讲解该技术的*进展和设计实例,从MOSFET器件的基本物理特性开始,逐章分析CMOS放大单元电路、差分放大器、频率响应、噪声、反馈放大器与稳定性、运算放大器、电压基准源与电流基源、离散时间系统、差分电路及反馈系统中的非线性、振荡器和锁相环等基础模拟电路的分析与设计。本书还介绍了集成电路的基本制造工艺、版图和封装设计的基本原则。本书自出版以来得到了国内外读者的好评和青睐,被许多国际知名大学选为教科书。同时,由于原著者在世界知名*公司的丰富研究经历,使本书也非常适合作为CMOS模拟集成电路设计或相关领域的研究人员和工程技术人员的参考书
集成电路是现代电子技术的核心,随着集成电路产业迅猛发展,对专业人才的需求正急剧上升。本书从集成电路制造的工艺、设备、厂务 3 个关键内容出发,融合了集成电路制造的理论基础和前沿实践技术,深入浅出地探讨了集成电路制造的全过程。通过大量工艺设备的使用案例分析、实验数据、设备操作标准程序和教学实践视频,帮助读者掌握实际操作。此外,在介绍当前主流制造技术的同时,还深入讲解了产业界量产设备的基本原理、动力需求和应用实践。 上海科技大学材料器件中心聚焦集成电路先进制造领域卓越工程师的人才培养任务,依托先进一流的设备资源、资深工程师团队,联合产业界专家,将集成电路先进制造理论与实践有机结合,精心打造本书,旨在为读者提供全面、深入且实用的学习资料。本书不仅适用于本科生、研究生,对从事集成电路
本书将理论与现实应用进行了有效的融合。作者将重点放在实际环境中以帮助学生获得实际的感悟,并提供一种作出正确合理设计决策的方法。本书文笔流畅,描述直接明快,易为读者所接受。本书是为面向运算放大器和模拟集成电路设计的课程所用,对实际工作的工程师也是一本综合性的参考书。
本书精选了多种类型的iPhone手 机维修参考电路原理图及元件分布参考图, 内容包括iPhone6、iPhone5S、iPhone5C、iPhone5、iPhone4S、iPhone4 的 维修参考电路与元件参考分布。 图集按iPhone手 机代数编排,按照结构和功能特点进行分类,实用性强,是手机维修人员的读物。本书可供广大手机维修人员,以及职业院校电器维修专业、 手机维修培训班的师生参考使用。
本书主要介绍电子组装工艺可靠性工程技术的基础理论和学科技术体系,以及电子组装工艺过程所涉 及的环保、标准、材料、质量与可靠性技术,其中包括电子组装工艺可靠性基础、电子组装工艺实施过程 中的环保技术、试验与分析技术、材料与元器件的选择与应用技术、20余个典型的失效与故障案例研究、 工艺缺陷控制技术等内容。这些内容汇聚了作者多年从事电子组装工艺与可靠性技术工作的积累,其中的 案例及技术都来自生产服务一线的经验总结,对于提高和保障我国电子制造的质量和可靠性水平,实现高 质量发展具有很重要的参考价值。 本书可作为从事电子组装领域研发设计、工艺研究、检测分析、质量管理等工作的工程技术人员的参 考用书,也可作为相关领域的大专院校和职业技术教育的参考教材。
本书系统深入地阐述了双极型晶体管,金属-氧化物-半导体场效应晶体管及结型栅场效应晶体管三类器件的工作原理和工作特性等内容。
本书是模拟CMOS集成电路设计方面的经典教材,介绍模拟CMOS集成电路的分析与设计,着重讲解该技术的新进展和设计实例,从MOSFET器件的基本物理特性开始,逐章分析CMOS放大单元电路、差分放大器、频率响应、噪声、反馈放大器与稳定性、运算放大器、电压基准源与电流基源、离散时间、差分电路及反馈中的非线性、振荡器和锁相环等基础模拟电路的分析与设计。本书还介绍了集成电路的基本制造工艺、版图和封装设计的基本原则。本书自出版以来得到了外读者的好评和青睐,被许多国际知名大学选为教科书。同时,由于原著者在世界知名公司的丰富研究经历,使本书也非常适合作为CMOS模拟集成电路设计或相关领域的研究人员和工程技术人员的参考书。
《555时基集成电路原理与应用》是关于555时基集成电路应用技术的图书,全书共分10章,章介绍了555时基集成电路原理与工作模式,第二~十章则分别介绍了555时基集成电路在彩灯控制电路、照明电路、定时器、报警器、自动控制电路、仪器仪表电路、充电器及电源电路、玩具与休闲电路、其他电子电器电路中的应用实例,共200例。这些应用电路结构合理、设计新颖、实用性强。《555时基集成电路原理与应用》可供电子电路设计、开发和应用人员及广大电子爱好者阅读,也可供大中专院校及职业相关专业师生阅读参考。
本书从一位集成电路分销商的角度观察集成电路供应链上下游发展规律,分析了集成电路二十一个原厂的发展历程、集成电路的典型封装和命名规则、知名品牌历史和特殊个性,直指各大集成电路厂商的恩怨情仇和江湖世界;其中还杂糅了颇具代表性的创业经历和多位从业者的职业感悟,可以感受到他们对集成电路供应链的前瞻和国内半导体行业的期望。
本书为“集成电路EDA技术”丛书之一,内容涵盖从标准的RTL到GDSⅡ的设计流程,模拟和混合信号设计,物理验证、分析与寄生参数提取,电源噪声分析,工艺仿真,DFM和工艺CAD,并详细分析逻辑综合、布局及布线过程,专门探讨功耗分析与优化方法、等价性检验、静态时序分析、结构化数字设计和设计收敛,以及适合FPGA设计的特殊方法等。
《超大规模集成电路测试:数字存储器和混合信号系统》系统地介绍了这三类电路的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。部分是测试基础,介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法,详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模型的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计,包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测试总线标准和基于IP核的SOC测试。VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试。
《超大规模集成电路测试:数字存储器和混合信号系统》系统地介绍了这三类电路的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。部分是测试基础,介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法,详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模型的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计,包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测试总线标准和基于IP核的SOC测试。VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试。
本书从电子产品的开发、维修需要出发,全面系统地介绍了各类电子产品常用集成电路的主要特点和功能,主要包括常用的CMOS集成电路、TTL集成电路、微处理器集成电路、接口集成电路、非线性集成电路、运算放大顀成电路、电源集成电路、存储器集成电路、通信集成电路、家电集成电路、多媒体集成电路等。 本书在编排及选材上力求新颖、实用,特别适用于专业及业余的产品设计人员和维修人员、广大电子爱好者及有关技术人员阅读,也可作为大专院校电类专业有关实验、课程设计、毕业设计的参考书。
本书内容包括电工技术和电子技术,设计电路、电动机及其控制、模拟电子技术、数字电子技术等科目,既有详细、明了的实验内容和操作步骤,又有扩散思维的思考题,还有与实验内容对应的实验报告等,旨在全面培养、提高学生的硬件实物实验的动手能力和面向工程应用设计的知识处理能力。本书可作为高等学校应用型本科工科类相关专业的实验指导书,也可作为相关工程技术人员的参考书。
本手册从应用的角度出发介绍了常用模拟集成电路、数字集成电路的引脚排列、主要性能特点和参数、应用电路举例以及分立电子元器件的主要特性与选用。模拟集成电路部分主要包括集成运算放大器、电压比较器、集成功率放大器、集成稳压器和集成基准电压源等。数字集成电路部分主要包括门电路,缓冲器、驱动器和总线收发器,触发器和锁存器,单稳态触发器,寄存器和移位寄存器,计数器,编码器、译码器、数据选择器和模拟开关,全加器、加法器和数值比较器、奇偶产生器/校验器,接口电路、时基电路及达林顿电流驱动器,D/A和A/D转换器。分立电子元器件部分主要包括半导体二极管、晶体管、电阻器、电容器及半导体显示器等。