![印制电路板（PCB）设计基础 [美]克里斯朵夫·T](http://img3m3.ddimg.cn/59/22/11770860083-1_l.jpg)
![模拟CMOS集成电路设计 第2版 [美]毕查德·拉扎维 【正版图书】](http://img3m5.ddimg.cn/60/0/11781197565-1_l.jpg)
本书是模拟CMOS集成电路设计方面的经典教材，介绍模拟CMOS集成电路的分析与设计，着重讲解该技术的新进展和设计实例，从MOSFET器件的基本物理特性开始，逐章分析CMOS放大单元电路、差分放大器、频率响应、噪声、反馈放大器与稳定性、运算放大器、电压基准源与电流基源、离散时间、差分电路及反馈中的非线性、振荡器和锁相环等基础模拟电路的分析与设计。本书还介绍了集成电路的基本制造工艺、版图和封装设计的基本原则。本书自出版以来得到了外读者的好评和青睐，被许多国际知名大学选为教科书。同时，由于原著者在世界知名公司的丰富研究经历，使本书也非常适合作为CMOS模拟集成电路设计或相关领域的研究人员和工程技术人员的参考书。
![微电子制造科学原理与工程技术 [美]坎贝尔 著；曾莹、严利人、王纪军 译 9787505383135 电子工业出版社【正](http://img3m8.ddimg.cn/67/23/11972037298-1_l.jpg)
VLSI测试与可测性设计方法学已甄成熟，诸多理论和方法也为设计和制造界广泛接受，亦成为EDA工具的基本特征。本书系统化编撰迄今为止主流的方法学与结构，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础，也为电路(包括电路级、芯片级和系统级)的设计、制造、测试和应用之间建立一个相互交流的平台。 本书主要内容包括电路测试基础，验证、模拟和仿真，自动测试生成，专用可测性设计，扫描设计，边界扫描法，测试和伪测试，内建自测试，电流测试，存储器测试，SoC测试。
