理解电磁兼容基础理论、掌握电磁兼容设计技术,并且能够应用在F42B(印制电路板)设计中,使设计的PCB次就能很好地达到电磁兼容性和信号完整性要求.这些几乎是所有相关领域开发人员所追求的目标。本书正是出于这个目标而编写的,目的是解决电磁兼容与PCB设计的相关问题。 本书以系统性和实用性为原则,从电磁兼容基础理论出发,详细地讨论了电磁兼容与PCB设计的有关问题。全书主要分为4个部分:电磁兼容基本原理、PCB设计基础、PCB的电磁兼容设计和PCB的信号完整性分析。 本书既适合作为高等院校电子电气相关专业学生的教材或参考书,同时对于从事硬件开发、PCB设计、系统设计的工程技术人员来说也是不可多得的参考书或是培训教材。
本书是《CMOS射频集成电路设计》的第二版,这本被誉为射频集成电路设计的指南书全面深入地介绍了设计千兆赫兹(GHz)CMOS射频集成电路的细节。本书首先简要介绍了无线电发展史和无线系统原理;在回顾集成电路元件特性、MOS器件物理和模型、RLC串并联和其他振荡网络以及分布式系统特点的基础上,介绍了史密斯圆图、S参数和带宽估计技术;着重说明了现代高频宽带放大器的设计方法,详细讨论了关键的射频电路模块,包括低噪声放大器(LNA)、基准电压源、混频器、射频功率放大器、振荡器和频率综合器。对于射频集成电路中存在的各类噪声及噪声特性(包括振荡电路中的相位噪声)进行了深入的探讨。本书最后考察了收发器的总体结构并展望了射频电路未来发展的前景。书中包括许多非常实用的电路图和其他插图,并附有许多具有启发性的习题,因此是高
本书是MEMS系列图书中的一本,主要介绍MEMS技术应用方面的知识。内容包括:惯性传感器、微机械压力传感器、表面微加工器件、微执行器、湍流传感器与执行器、微机器人技术、微型真空泵、非线性动电器件、微液滴发生器、微热管和微散热器、微通道热沉、流动控制、用于边界层减阻的反应式控制、自由剪切流的MEMS自主控制。 本书主要面向MEMS专业的高年级本科生和研究生,也可供MEMS技术研究人员参考。
本书论述集成电路与嵌入式数字系统的测试技术,提出许多重要且关键的解决方案。针对目前在测试中遇到的实际问题,从技术有产品的投资成本上论述嵌入内核和soC的测试问题。 本书适合作为高等院校相关专业本科生、研究生的教材或参考书,也可供相关专业技术人员参考。
作为一本资料信息型参考书,《集成电路工艺中的化学品》共7章,内容包括序言、薄膜制备技术及化学品、晶片清洗技术及化学品、光刻技术及化学品、刻蚀技术及化学品、化学机械抛光技术及化学品、载气及其他化学品。2~6章的内容都与集成电路制造过程的关键技术领域相关。在各章的开始,提供了集成电路制造过程关键技术的概述、所涉及的化学反应机理等,然后详细提供工艺中用到的化学品的物理化学性质、应用描述、毒性及安全等相应信息。书中涉及了200多种化学品和气体,全书最后还列出了300余篇参考文献。 将半导体元件生产所需的化学品的有用信息和数据汇集在一起,以“化学品”为中心展开系统描述,提供的化学及工程知识将帮助读者理解电子化学品的关键性作用,在电子化学品和集成电路制造工艺之间搭建起连接的“桥梁”。《集成电路工
本书选取常用的集成电路,主要介绍有关常用电源类集成电路,数字类集成电路,多媒体类集成电路,模拟类集成电路,射频、中频类集成电路,光纤、组件类集成电路,接口类集成电路,网络类集成电路,通信类集成电路,以及传感器类集成电路的主要特性和引脚排列图。 本书适合从事电子技术工作的技术人员以及相关院校师生等参考使用。
本书首先介绍辐射环境、辐射相互作用物理过程及若干种辐射效应; 接下来,本书详细介绍集成电路抗辐射加固设计方法学,包括单粒子闩锁加固策略及测试、辐射加固器件的SPICE模型、抗辐射单元库设计、自动综合的抗辐射数字电路设计、模拟和混合信号电路加固设计等; 很后,本书介绍集成电路辐射效应仿真、单粒子效应的脉冲激光测试原理和辐射加固保障测试。 本书可作为微电子和核科学等领域相关教师、研究生和工程人员在学术研究和工程技术方面的参考书。
由于芯片尺寸的减小、集成度密集化的增强、电路设计复杂度的增加、电路性能要求的提高等因素,对芯片内的时序分析提出了更高的要求。静态时序分析是大规模集成电路设计中非常重要的一个环节,它能验证设计在时序上的正确性,并决定设计是否能够在要求的工作频率下运行。本书由集成电路设计论坛.iream.站长刘峰编著,共11章,基于广度和深度两个方面来阐述整个CMOS集成电路静态时序分析流程与时序建模技术,并通过实践案例对技术应用进行更深入的讲解,使初学者在静态时序分析与建模两方面得到理论与实战的双重提高。本书适合作为微电子与集成电路相关的研究生、本科生、职业技术类学生的教材和教辅书,也可作为电子、自控、通信、计算机类工程技术人员学习使用集成电路设计软件和进修集成电路设计的技术参考书与工具书。
本书首先介绍辐射环境、辐射相互作用物理过程及若干种辐射效应; 接下来,本书详细介绍集成电路抗辐射加固设计方法学,包括单粒子闩锁加固策略及测试、辐射加固器件的SPICE模型、抗辐射单元库设计、自动综合的抗辐射数字电路设计、模拟和混合信号电路加固设计等; 很后,本书介绍集成电路辐射效应仿真、单粒子效应的脉冲激光测试原理和辐射加固保障测试。 本书可作为微电子和核科学等领域相关教师、研究生和工程人员在学术研究和工程技术方面的参考书。
《数字集成电路容错设计--容缺陷故障、容参数偏差、容软错误》主要内容涉及数字集成电路容错设计的三个主要方面:容缺陷(和故障)、容参数偏差以及容软错误;包括3s技术(自测试、自诊断、自修复)的基本原理。从嵌入式存储、多核处理器和片上网络三个方面论述了缺陷(故障)容忍方法;从参数偏差容忍的角度,论述了抗老化设计和参数偏差容忍设计方法;从处理器和片上网络两个层次论述了软错误容忍方法;并以国产具有自修复功能的单核及多核处理器为例介绍了相关成果的应用。《数字集成电路容错设计--容缺陷故障、容参数偏差、容软错误》的特点是兼具先进性和实用性,系统性强,体系新颖。 《数字集成电路容错设计--容缺陷故障、容参数偏差、容软错误》适合于从事集成电路(与系统)容错设计方向学术研究,以及集成电路kda工具开发和应用的科技
本书以Protel 99SE为平台,介绍了电路设计与制版的基本方法和技巧。本书采用以工作任务驱动为导向的项目训练模式,分七个项目,每个项目设有1~3个训练任务,通过任务驱动技能训练,读者可快速掌握原理图设计、原理图元件库的编辑、层次化原理图设计、印制电路板PCB设计、PCB元件封装制作、单片机可编程控制器PCB设计与软件配置、电路仿真分析等电路设计、制版知识与技能。 本书由浅入深,循序渐进,各项目相对独立且前后关联。全书语言简洁,思路清晰,图文并茂,解说详细。随书配套的光盘包含全书PPT教学资料和项目教学实例文件,方便教师教学。读者可以通过PPT幻灯片快速浏览学习本书内容,通过项目教学实例文件,学习电路设计制版的技术与技巧。