《晶体光学（第3版）》以晶体光学的基本原理和基础知识作为切入点，系统介绍了偏光显微镜的构造与使用方法，晶体在单偏光镜、正交偏光镜和锥光镜下的晶体光学性质及其应用，归纳总结了透明矿物系统鉴定的内容、步骤及切面的选择。 对晶体光学在宝玉石鉴定中的应用也作了一般性介绍。 《晶体光学（第3版）》可用于普通高等院校地质学、资源勘查工程和地球化学等专业的晶体光学教材，也可作为岩矿鉴定、宝玉石鉴定人员和其他地质科研工作者的参考用书。
本标准是对JB/T 482——1991《X射线定向仪 技术条件》的修订，修订时作了编辑性修改。本标准与JB/7 5482——1991相比，主要变化如下： ——环境温度改为20℃±5℃； ——在分辨率的定义和测量上改为精度，并增加了精度为±15''档次： ——接地电阻改为接地装置的接地电阻不大于4f2； ——计数器旋转角度范围改为-10°-110°； ——修改了小读数值检查； ——删去整机总耗电功率的要求； ——增加了对X射线管方面的技术要求； ——增加了X射线管焦点测试检验； ——增加了小读数值为1''档次： ——增加了定向仪综合精度检查； ——增加了高压变压器电压稳定度试验； ——增加了高压变压器对地绝缘电阻测试。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国试验机标准化技术委员会、辽宁仪表研究所归口。 本标准由
