《薄膜结构X射线表征》结合作者二十多年来的工作积累和外进展，系统介绍应用X射线衍射和散射技术表征薄膜微结构的多种基本实验装置、实验数据分析理论以及典型的薄膜微结构表征实例。《薄膜结构X射线表征》分3篇(共19章)：篇为基本实验装置(～3章)，主要介绍X射线源、X射线准直和单色化、各种探测器以及薄膜X射线衍射仪和表面/界面散射装置。第2篇为基本理论(第4～10章)，介绍薄膜X射线衍射和散射实验数据分析所用的相关理论，包括用于薄晶体或小晶体多层膜和金属多层膜的X射线衍射运动学理论；用于近多层膜、半导体超晶格和多量子阱的X射线衍射动力学理论；用于原子密度和晶格参数很接近的金属多层膜的X射线异常衍细结构理论；用于薄膜和多层膜表面与界面分析的X射线反射、漫散射理论以及掠入射衍射理论。基本覆盖了目前应用X射线衍射和散射技

本书是一部内容丰富、易读易用的纳米传感器论著。首先介绍纳米传感器的分类和基础术语，然后概述纳米传感器加工中所运用的重要纳米材料和纳米技术的性能和特性以及纳米传感器实验室，并按照传感器类型系统地介绍纳米机械传感器、热纳米传感器、光学纳米传感器、磁纳米传感器、纳米生物传感器、化学纳米传感器的原理及如何利用物理、化学、生物等不同方法对检测量进行探测，为广大科研工作者提供全面的参考资料。本书可供从事微纳传感器件设计、加工及测试的广大MEMS/NEMS科研工作者使用，也可供相关专业大专院校师生阅读。

本书提出了功的互等定理的修正命题，开发出功的互等定理的新功能，发展了功的互等理论，建立了功的互等法，从而形成了求解弯曲薄板问题的功的互等新理论。本书共七章，主要内容包括:根据功的互等新理论，应用功的互等法系统地求解弯曲矩形薄板的平衡、振动和稳定问题，具有混合边界条件弯曲矩形板的平衡问题，以及弯曲圆板的平衡问题。书中以大量的计算表明，与通常求解控制微分方程方法比较，功的互等法具有简便、通电和有效等特点。同时，该法特别适用于求解特种载荷和复杂边界条件问题，此外,本书还给出了诸多边界条件问题，特别是复杂边界条件问题的大量的数据和图表以供参考使用。 本书可供高等院校土木工程、力学、航空和机械专业的师生以及相关领域的科技人员参考。

《统计物理学中的量子场论方法(第3版)》位作者是2003年诺贝尔物理学奖获得者阿列克谢·阿布里科索夫.这本书初版在1962年，在1963年即由郝柏林院士翻译成中文，是我国60年代以来学习统计物理学中的量子场论方法最早、最普及的专著。但当时印数很少，现在可能只有在图书馆才能借到。因此郝柏林院士对该书的第三版进行重新翻译出版,并将作者为英文译本准备的补充和订正加进去。

TDLAS技术是基于视线效应的测量，测量结果为沿光路上的平均值，不能反映流场的内部信息，然而在实际流场中，沿着光线传播方向存在梯度变化，《装备学院·学术专著：燃烧场吸收光谱断层诊断技术》以TDLAS技术为基础，根据被测流场性质和测量需求，以获得非均匀流场内部信息为目标，通过结合相关测量方法，得到流场温度、组分浓度等一维分布和二维分布结果。《装备学院·学术专著：燃烧场吸收光谱断层诊断技术》系统介绍了TFDLAS测量非均匀流场的基本原理和测量方法，分析了吸收谱线参数、光线数目、光线布局等因素对测量结果的影响，并列举了相关测量和仿真实例，使读者更易理解TDLAS测量流场的相关理论和方法。《装备学院·学术专著：燃烧场吸收光谱断层诊断技术》全书共6章，章为绪论，第2章为激光与吸收光谱基础知识，第3章介绍非均匀流场一维

《统计物理学中的量子场论方法(第3版)》位作者是2003年诺贝尔物理学奖获得者阿列克谢·阿布里科索夫.这本书初版在1962年，在1963年即由郝柏林院士翻译成中文，是我国60年代以来学习统计物理学中的量子场论方法最早、最普及的专著。但当时印数很少，现在可能只有在图书馆才能借到。因此郝柏林院士对该书的第三版进行重新翻译出版,并将作者为英文译本准备的补充和订正加进去。

储粮昆虫是发生于储粮及其环境或其相关产品的场所中的一类昆虫，包括直接取食和危害储粮及其产品或间接有关的害虫及其天敌。储粮昆虫大多体小、色暗，种类多，且活动隐蔽，这使得其存在与活动不易被发现，发生的种类鉴别也比较困难。河南工业大学从建校以来，尤其是从20世纪70年代初以后与原中华人民共和国粮食部等部门和单位合作，对中国仓库害虫区系进行了广泛的调查，对一些重要的储粮害虫进行了形态分类学、生物学、生态学及防治基础和实践研究，也积累了大量的储藏物昆虫标本。本书从储粮昆虫实物图片对比鉴别的角度，将储粮昆虫标本进

本书是一部内容丰富、易读易用的纳米传感器论著。首先介绍纳米传感器的分类和基础术语，然后概述纳米传感器加工中所运用的重要纳米材料和纳米技术的性能和特性以及纳米传感器实验室，并按照传感器类型系统地介绍纳米机械传感器、热纳米传感器、光学纳米传感器、磁纳米传感器、纳米生物传感器、化学纳米传感器的原理及如何利用物理、化学、生物等不同方法对检测量进行探测，为广大科研工作者提供全面的参考资料。本书可供从事微纳传感器件设计、加工及测试的广大MEMS/NEMS科研工作者使用，也可供相关专业大专院校师生阅读。