《ESD揭秘(静电防护原理和典型应用)》是StevenH.Voldman(沃尔德曼)博士在半导体器件静电放电(ESD)领域20多年研究和工作经验的结晶。对ESD的基本原理、现实中的ESD环境、半导体器件制造、处理和组装过程的ESD现象、半导体器件片上和片外保护技术，以及对未来纳米结构中的ESD问题展望等，进行了系统而全面的阐述，是帮助了解半导体器件ESD及其所有相关问题的一本非常好的基础性书籍。 本书在介绍当今所面临的半导体芯片制造问题、ESD半导体芯片设计和系统问题。以及描述未来纳米技术的ESD现象方面是的。 本书是作者在ESD保护方面系列书籍的补充。对刚进入这个领域的人员来说。本书是一个重要的参考，也可以帮助了解进入纳米电子时代后现代技术所面临的问题。

本书从电子设计竞赛培训和电子综合类课程的教学实际情况出发，具体分析了电子综合实验项目教学中的元器件、电路、算法等知识内容，详细介绍了电子设计竞赛培训的典型案例，对历年的电子设计竞赛真题进行了深入剖析，给出了详细的设计方案、典型电路、关键算法以及测试方法，设计实例均有完整的电路结构和具体参数，同时付上国赛的最终提交报告，凝结了武汉大学电子设计竞赛教练组十余年的培训经验，所有方案和电路均经过实验验证并制作成实物，具有很强的实用性。

《故障诊断与容错控制系统的数据驱动设计》介绍了基本的统计过程监控、故障诊断和控制方法，并介绍了适应动态工业过程需求的故障诊断与容错控制系统的先进数据驱动设计方案。随着对技术过程和资产的可靠性、可用性以及安全性的要求不断提高，过程监控和容错已成为自动化控制系统设计中的重要环节。 《故障诊断与容错控制系统的数据驱动设计》向读者展示了目前由于信息技术的迅猛发展，数据驱动和统计过程监控与控制的关键技术如何广泛应用于工业实践中来解决这些问题。 为了便于自主研究和实际应用，《故障诊断与容错控制系统的数据驱动设计》包含了重要的数学与控制理论知识以及相关工具。主要方案以算法形式给出，并在工业案例的系统中演示。 《故障诊断与容错控制系统的数据驱动设计》将引起过程与控制工程师、工程专业

本书论述了数字和可性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了和可性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog平台实现并解释故障仿真和生成算法。

本书从有机电子学的角度，深入浅出地总结了有机电子材料中的电子结构与过程，并以此为基础，阐述了有机固体凝聚态的各种性质，这些性质对实际应用中的有机光电器件的行为起决定性作用。基于对理论的理解，书中介绍了有机电子材料性质的测试表征方法，讨论了有机薄膜材料在实际电子器件中的各种应用，例如，有机场效应晶体管、基于有机材料的太阳能电池、基于有机电致发光的信息显示与照明、有机传感器、有机存储器及有机激光等。对于各种应用器件，本书主要强调它们的基础知识、基本原理、器件结构和性能表征。 本书可供初涉有机电子学领域的人员参考，也可供从事有机电子材料领域研发的科技人员使用。

本书用通俗平近的语言，按照学习由浅入深的一般认知规律，让初学者能够从身边所感自然切入，结合ADC和DAC相关工程实践，为进一步思索和凝练解决工程问题的一般性方法提供了导引。全书内容充实，通过朴素、自然的表达方式与读者分享了丰富的基础知识和工程经验；形象、生动的插图设计让传递的信息更为直观、具体；从读者角度出发，广泛联系工程、就业中的一些现实问题，分享了一些技术以外的观点供读者参考。本书适用于ADC和DAC的初学者；前导章节大量基础知识的铺排使得本书也可以作为一般电子爱好者、电子信息专业一、二年级本科生的专业入门书籍；工程案例、高速ADC和DAC的PCB设计对于高年级本科生科研项目训练、PCB设计初学者的进阶都有很好的适用性。

本书从电子设计竞赛培训和电子综合类课程的教学实际情况出发，具体分析了电子综合实验项目教学中的元器件、电路、算法等知识内容，详细介绍了电子设计竞赛培训的典型案例，对历年的电子设计竞赛真题进行了深入剖析，给出了详细的设计方案、典型电路、关键算法以及测试方法，设计实例均有完整的电路结构和具体参数，同时付上国赛的最终提交报告，凝结了武汉电子设计竞赛教练组十余年的培训经验，所有方案和电路均经过实验验证并制作成实物，具有很强的实用性。

本书论述了数字系统测试和可测试性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。 本书广泛使用Verilog和Verilog PLI编写测试应用，这也是本书与其他有关数字系统测试和可测试性设计的区别。 此外，本书还广泛使用测试平台和相应的测试平台开发技术。在开发测试平台和虚拟测试机的过程中，本书使用了PLI，PLI是一个功能强大的编程工具，它提供与用Verilog语言描述的硬件进行交互的接口。这种硬件/软件混合的环境有助于本书描述复杂的测试程序和测试策略。

《故障诊断与容错控制系统的数据驱动设计》介绍了基本的统计过程监控、故障诊断和控制方法，并介绍了适应动态工业过程需求的故障诊断与容错控制系统的先进数据驱动设计方案。随着对技术过程和资产的可靠性、可用性以及安全性的要求不断提高，过程监控和容错已成为自动化控制系统设计中的重要环节。 《故障诊断与容错控制系统的数据驱动设计》向读者展示了目前由于信息技术的迅猛发展，数据驱动和统计过程监控与控制的关键技术如何广泛应用于工业实践中来解决这些问题。 为了便于自主研究和实际应用，《故障诊断与容错控制系统的数据驱动设计》包含了重要的数学与控制理论知识以及相关工具。主要方案以算法形式给出，并在工业案例的系统中演示。 《故障诊断与容错控制系统的数据驱动设计》将引起过程与控制工程师、工程专业

《故障诊断与容错控制的数据驱动设计》介绍了基本的统计过程监控、故障诊断和控制方法，并介绍了适应动态工业过程需求的故障诊断与容错控制的先进数据驱动设计方案。随着对技术过程和资产的可靠性、可用性以及安全性的要求不断提高，过程监控和容错已成为自动化控制设计中的重要环节。

本书是一本电子技术入门读物，共分6章，主要介绍了电子技术基础知识、万用表的使用、常用电子元器件、基础电子电路、无线电广播与收音机、收音机的组装与检修等内容。 为了帮助初学者轻松掌握书中的内容，本书在每章的首页列出本章知识结构图，对书中重点内容采用黑体显示，同时在每一章后附习题，以帮助读者检验学习效果。 本书起点低、通俗易懂，内容结构安排符合学习认知规律，适合作电子技术初学者的自学读物，也适合作职业院校电类专业的教材和教学参考用书。

本书由工作在电子封装线的各方面专家编写，内容涉及电子封装及相关领域的材料与工艺，包括半导体、塑料、橡胶、复合材料、陶瓷和玻璃以及金属等各种材料，也包括电子封装和组装的软钎焊、电镀与沉积金属涂层、印制电路板制造、混合微电路与多芯片模块的材料和工艺、电子组件中的粘接剂、下填料和涂层以及热管理材料及系统等各种工艺技术，较充分反映了当前电子封装各方面的先进材料与工艺，不仅理论分析充分，而且有丰富的实践经验总结，是关于电子封装材料和工艺的较为全面而实用的工具书。