本书在介绍开关电源基本工作原理与特性的基础上，以实际设计的电源模块为例，详细介绍开关电源设计要求、各流程以及具体控制电路的设计思路，帮助读者了解电子设备中开关电源模块的工作原理与设计制作细节及工作过程；同时，结合作者多年的现场维修经验，详细说明了多种分立元件开关电源的维修方法，多种集成电路自激开关电源的维修方法，多种集成电路他激开关电源的维修方法，多种DC-DC升压型典型电路分析与检修方法，多种PFC功率因数补偿型开关电源典型电路分析与检修方法。本书配套视频生动讲解开关电源设计、PCB制作以及电源检修操作，扫描书中二维码即可观看视频详细学习，如同老师亲临指导。本书可供电子技术人员、电子爱好者以及电气维修人员阅读，也可供相关专业的院校师生参考。

作为电工基础领域的实战教学宝典，《图说帮》匠心独运，开创了全新的学习体验模式。 模块化教学 多媒体图解 二维码微视频 构成了本书独有的学习特色。在内容上，《图说帮》团队深耕细作，通过巧妙的模块化设计，将纷繁复杂的知识体系解构为一系列条理清晰、易于掌握的学习单元，让读者能够按需学习，循序渐进。然后依托多媒体图解的方式输出给读者，将抽象难懂的电工原理与实操技巧转化为生动直观的视觉盛宴。读者无需埋头苦读，即可轻松 看 懂电工， 练 就技能。此外，为了获得更好的学习效果，本书充分考虑读者的学习习惯，在图书中增设了 二维码 。书中遍布的二维码只需轻轻一扫，立即解锁与之对应的微视频，这些微视频涵盖了对图书内容的深入讲解与示范操作，进一步激发读者的学习兴趣与记忆效果。全新的学习手段更加增强了自主学

本书精选日本《MJ无线与实验》杂志上近年发表的音质经过试听验证且广受初学者喜爱的10种机型电子管功率放大器（俗称“胆机”）制作笔记，并适当增补基础制作技能、识图读图方法等内容，经编辑→发表→再编辑→再

本书全面系统地介绍了用 Multisim 14进行电路设计与仿真的方法。本书分为十章，主要包括 Multisim使用入门、电子电路设计基础、电子电路元件库与仿真仪器、电子电路仿真分析方法、音频功率放大器设计、直流稳压源设计、组合逻辑电路设计、时序逻辑电路设计、LabVIEW虚拟仪器以及综合设计实例 ——小型称重系统设计。 本书图文并茂，结合大量实例循序渐进地进行讲解，同时配合每章的习题，帮助读者拓展思维，举一反三。 本书可供广大的电子设计人员参考，也可作为高等院校电子、自动化类专业的。

郝跃和张金风等编著的《氮化物宽禁带半导体材料与电子器件》以作者多年的研究成果为基础，系统地介绍了Ⅲ族氮化物宽禁带半导体材料与电子器件的物理特性和实现方法，重点介绍了半导体高电子迁移率晶体管（HEMT）与相关氮化物材料。全书共14章，内容包括：氮化物材料的基本性质、异质外延方法和机理，HEMT材料的电学性质，AlCaN/GaN和InAlN/GaN异质结的生长和优化、材料缺陷分析，GaN HEMT器件的原理和优化、制备工艺和性能、电热退化分析，GaN增强型HEMT器件和集成电路，GaN MOS-HEMT器件，最后给出了该领域未来技术发展的几个重要方向。《氮化物宽禁带半导体材料与电子器件》可供微电子、半导体器件和材料领域的研究生与科研人员阅读参考。

《电子元器件从入门到精通》分为上、下两篇。 上篇为基础入门篇，以行业资格规范为标准，选用典型元器件，全面系统地介绍了各种常用电子元器件的功能、特点、识别、应用及检测方法。主要内容包括电子基础知识、电阻器的功能特点与识别检测、电容器的功能特点与识别检测、电感器的功能特点与识别检测、二极管的功能特点与识别检测、三极管的功能特点与识别检测、场效应晶体管的功能特点与识别检测、晶闸管的功能特点与识别检测、集成电路的功能特点与识别检测和常用电气部件的功能特点与识别检测等。 下篇为维修应用篇，以电子电工行业的技能要求为引导，从电路图的识读方法与技巧入手，详细介绍了电子元器件在电子产品及各控制电路中的维修检测技巧。主要内容包括电路图的识读方法与技巧、元器件拆卸焊接工具的特点与使用、空调器中元

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本书系统地介绍了电子元器 件失效分析技术。全书共19章。第一篇电子元器件失 效分析概论，分两章介绍了电子元器件可靠性及失效 分析概况；第二篇失效分析技术，用7章的篇幅较为 详细地介绍了失效分析中常用的技术手段，包括电测 试、显微形貌分析、显微结构分析、物理性能探测、 微区成分分析、应力试验和解剖制样等技术；第三篇 电子元器件失效分析方法和程序，介绍了通用元件、 机电元件、分立器件与集成电路、混合集成电路、半 导体微波器件、板级组件和电真空器件共7类元器件 的失效分析方法和程序；第四篇电子元器件失效预防 有3章内容，包括电子元器件失效模式及影响分析方 法(FMEA)、电子元器件故障树分析(FTA)和工程应用 中电子元器件失效预防。 本书是作者总结多年的研究成果和工作经验编写 而成的，可供从事电子元器件失效分析的技术人

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压接型IGBT器件封装老化失效的可靠性测评对柔性直流输电装备安全稳定运行至关重要。围绕压接型IGBT器件老化失效模拟与可靠性测评，《压接型IGBT器件封装可靠性建模与测评》系统介绍了压接型IGBT器件的发展趋势与封装可靠性研究现状，总结了压接型IGBT器件不同封装结构与失效模式，提出了压接型IGBT器件多物理场建模与性能仿真方法，建立了压接型IGBT器件封装疲劳失效物理场模型，提出了压接型IGBT器件封装可靠性计算方法，研制了压接型IGBT器件动静态、功率循环、短路冲击测试平台，构建了银烧结压接型IGBT器件封装老化失效与可靠性评估模型。

集成电路是采用微纳加工工艺将晶体管、电阻器、电容器和电感器等元器件互连集成在一起构成的，具有特定功能的电路系统，俗称“芯片”。 本书立足集成电路专业，帮助读者从理论到应用系统了解集成电路科学与工程的研究核心与行业动态，包括集成电路科学与工程发展史、集成电路关键材料、集成电路晶体管器件、集成电路工艺设备、集成电路制造工艺、大规模数字集成电路、大规模模拟及通信集成电路、先进存储器技术、先进传感器技术和集成电路设计自动化技术，共十章内容。 本书力求系统性、前沿性、创新性，同时与产业实践相结合，可作为集成电路科学与工程相关方向的，也可供集成电路领域的研究人员、工程技术人员及对集成电路产业与技术感兴趣的人士参考。